像素与芯片
IP68的iPhone Duo进灰卡死,七年折叠机测试首现翻车
博主JerryRigEverything测试显示,标称IP68防尘的苹果iPhone Duo折叠机在灰尘测试中因铰链进灰导致卡死,弯折测试后内屏出现永久绿线并失灵,系该博主七年来折叠机测试首次翻车。硬度测试中,其外屏抗划痕达莫氏7级,内屏仅2级。供应方面,苹果零售店被告知首发日大概率无现货,需劝阻未预购顾客到店;彭博社指出苹果明知存在严重供应限制仍开启预购属重大决策失误。此外,App Store已流出该机内置应用横屏运行截图。
